Сканирующий зондовый микроскоп Solver BIO Biolam-P –Smena-B для исследований живых клеток в жидких средах производства компании NT-MDT (Зеленоград, Россия)

СЗМ Solver BIO Biolam-P –Smena-B предназначен для исследования морфологии живых клеток в жидкой среде с нанометровым разрешением.
Краткие характеристики СЗМ:
Методы исследования поверхности реализуемые на данном СЗМ:
1. атомно-силовая микроскопия (АСМ)
1.a. контактный режим
1.b. неконтактный режим
1.c. полуконтактный режим
Табл. 1. Характеристики сканеров и сканирующих головок.
Модель
|
Диапазон сканирования
|
Минимальный шаг сканирования
|
SC101
|
1×1×1 мкм (±10%)
|
0.0004 нм
|
SC110
|
10×10×2 мкм (±10%)
|
0.0011 нм
|
SC150
|
50×50×3 мкм (±10%)
|
0.006 нм
|
SMENA
|
50×50×2.5 мкм (±10%)
|
0.006 нм
|
Физические характеристики получаемые при исследовании поверхности:
- морфология поверхности
- фазовый контраст
- исследование микротрения и микротвёрдости
Зондовые датчики:
- для исследования образцов в контактном режиме измерений используются прочные зондовые датчики CSG11 (CSG1) (изготовленные фирмой NT-MDT) с радиусом закругления вершины 5 нм и с угловой расходимостью кончика зонда <22°, покрытые плёнкой Pt(Au) (для изучения электрических характеристик поверхности и для метода СТМ).
- для исследования образцов в неконтактном и полуконтактном режиме измерений используются зондовые датчики NSG11 (NSG1) (изготовленные фирмой NT-MDT) с радиусом закругления вершины 5 нм и с угловой расходимостью кончика зонда <22°, покрытые плёнкой Pt (Au) (для изучения электрических характеристик поверхности и для метода СТМ).
Разрешение составляет от нескольких десятков нанометров до одного ангстрема и определяется:
- типом используемого зонда
- методом (режимом) которым исследуется поверхность (АСМ, СТМ)
- исследуемой физической величиной (морфология поверхности, микротвёрдость)
- погрешностями прибора
Параметры исследуемых образцов:
- длина и ширина в латеральной плоскости несколько сантиметров (сканирующая измерительная головка “SMENA” позволяет исследовать образцы практически любых размеров)
- толщина несколько миллиметров
- вес до 100 гр (только для сканеров)
Исследуемые структуры:
- образцы с квантовыми точками (КТ) на поверхности (латеральный размер КТ от 10 нм до 200 нм)
- срезы металлов с выделением границ зёрен на поверхности (размеры зёрен ~ 0.5÷10 мкм)
- тонкие диэлектрические плёнки
- живые клетки в нативных условиях (в жидкостной ячейке)