Сканирующий зондовый микроскоп Solver BIO Biolam-P–Smena-B

Сканирующий зондовый микроскоп Solver BIO Biolam-P –Smena-B для исследований живых клеток в жидких средах производства компании NT-MDT (Зеленоград, Россия)

СЗМ Solver BIO Biolam-P –Smena-B предназначен для исследования морфологии живых клеток в жидкой среде с нанометровым разрешением.

Краткие характеристики СЗМ:
Методы исследования поверхности реализуемые на данном СЗМ:
1.    атомно-силовая микроскопия (АСМ)
1.a. контактный режим
1.b. неконтактный режим
1.c. полуконтактный режим

Табл. 1. Характеристики сканеров и сканирующих головок.

Модель Диапазон сканирования Минимальный шаг сканирования
SC101 1×1×1 мкм (±10%) 0.0004 нм
SC110 10×10×2 мкм (±10%) 0.0011 нм
SC150 50×50×3 мкм (±10%) 0.006 нм
SMENA 50×50×2.5 мкм (±10%) 0.006 нм

Физические характеристики получаемые при исследовании поверхности:
  1. морфология поверхности
  2. фазовый контраст
  3. исследование микротрения и микротвёрдости
Зондовые датчики:
  1. для исследования образцов в контактном режиме измерений используются прочные зондовые датчики CSG11 (CSG1) (изготовленные фирмой NT-MDT) с радиусом закругления вершины 5 нм и с угловой расходимостью кончика зонда <22°, покрытые плёнкой Pt(Au) (для изучения электрических характеристик поверхности и для метода СТМ).
  2. для исследования образцов в неконтактном и полуконтактном режиме измерений используются зондовые датчики NSG11 (NSG1) (изготовленные фирмой NT-MDT) с радиусом закругления вершины 5 нм и с угловой расходимостью кончика зонда <22°, покрытые плёнкой Pt (Au) (для изучения электрических характеристик поверхности и для метода СТМ).

Разрешение составляет от нескольких десятков нанометров до одного ангстрема и определяется:
  1. типом используемого зонда
  2. методом (режимом) которым исследуется поверхность (АСМ, СТМ)
  3. исследуемой физической величиной (морфология поверхности, микротвёрдость)
  4. погрешностями прибора

Параметры исследуемых образцов:

  1. длина и ширина в латеральной плоскости несколько сантиметров (сканирующая измерительная головка “SMENA” позволяет исследовать образцы практически любых размеров)
  2. толщина несколько миллиметров
  3. вес до 100 гр (только для сканеров)

Исследуемые структуры:

  1. образцы с квантовыми точками (КТ) на поверхности (латеральный размер КТ от 10 нм до 200 нм)
  2. срезы металлов с выделением границ зёрен на поверхности (размеры зёрен ~ 0.5÷10 мкм)
  3. тонкие диэлектрические плёнки
  4. живые клетки в нативных условиях (в жидкостной ячейке)


Вернуться к списку