Просвечивающий электронный микроскоп JEM- 2100F

Просвечивающий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JEM-2100F (Jeol, Япония) – введён в эксплуатацию в августе 2010 г.  

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100F (с полевой эмиссией электронов) позволяет проводить всестороннее исследование структуры широкого спектра объектов таких, как твердотельные наноструктуры, керамики, металлы, волокнистые и порошкообразные микро- и наноматериалы. При ускоряющем напряжении в 200 кэВ микроскоп обеспечивает разрешение 0.19 нм по точкам и 0.1 нм по линиям (без коррекции сферических аберраций). Режимы микро- и нанопучковой дифракции позволяют осуществлять локальный фазовый анализ объектов. Также возможно получение изображения объектов в режиме сканирующего просвечивающего электронного микроскопа с разрешением не хуже 0.2 нм при помощи детекторов светлого и тёмного поля. Для проведения локального химического анализа микроскоп оборудован энергодисперсионным рентгеновским детектором Х-Мах компании Oxford Instruments. Локальность определения химического состава определяется диаметром электронного зонда и может варьироваться в диапазоне от 0.5-2.4 нм.


Перейти на официальную страницу "Лаборатории высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии"

Вернуться к списку