Методическая работа

2010 г.
Круглов А.В
. УМК по атомно-силовой микроскопии. Комплекс лабораторных работ. Электронное издание 274.10.05. Изд. ННГУ. 2010.
Карпович И.А., Филатов Д.О. Фотоэлектрическая диагностика квантово-размерных гетеронаноструктур Учебное пособие Нижний Новгород: Изд. ННГУ Изд-во Нижегородского госуниверситета, 2010. – 98 с. – Илл. – 43, библ. – 54 назв. 2010 ННГУ 87 стр. 300 экз.

2007 г. 

Круглов А.В., Филатов Д.О. Получение первого СЗМ изображения. Обработка и представление результатов эксперимента: Описание лабораторной работы. – Нижний Новгород: Изд. ННГУ, 2007. – 29 с.
Круглов А.В., Филатов Д.О. Сканирующая зондовая литография. Описание лабораторной работы. – Нижний Новгород: Изд. ННГУ, 2007. – 18 с.
Круглов А.В., Филатов Д.О. Артефакты в сканирующей зондовой микроскопии. Описание лабораторной работы. – Нижний Новгород: Изд. ННГУ, 2007. – 32 с.
Круглов А.В., Филатов Д.О. Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии. Описание лабораторной работы. – Нижний Новгород: Изд. ННГУ, 2007. – 17 с.

2006 г. 

Горшков А.П., Карпович И.А. Исследование инфракрасных фоторезисторов на внутризонных переходах в квантовых ямах InGaAs/GaAs. Описание лабораторной работы. Нижний Новгород: Изд. ННГУ. 2006 г. 18 стр.
Горшков А.П., Карпович И.А. Исследование квантоворазмерного эффекта Штарка в гетероструктурах с квантовыми ямами InGaAs/GaAs методом фотоэлектрической спектроскопии. Описание лабораторной работы. Нижний Новгород: Изд. ННГУ. 2006 г. 18 стр.
Горшков А.П., Карпович И.А. Наноразмерные частицы кремния и германия в оксидных диэлектриках. Формирование, свойства, применение. Описание лабораторной работы. Нижний Новгород: Изд. ННГУ. 2006 г. 18 стр.

2004 г. 

Филатов Д.О., Круглов А.В., Левичев В.В. Исследование оптических свойств поверхности твердых тел методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии (БСОМ). Описание лабораторной работы. Нижний Новгород, Изд. ННГУ, 2004. 36 с.
Филатов Д.О., Круглов А.В., Левичев В.В. Исследование оптических свойств поверхности твердых тел методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии (БСОМ). Описание лабораторной работы. Нижний Новгород. Изд. ННГУ. Компьютерное изд. № 72.04.05. 2004. 36 с. 

2003 г. 

Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. Исследование топографии поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме. Описание лабораторной работы. Нижний Новгород, Изд. ННГУ, 2003. 36 с.
Кудрявцева Р.В., Павлов А.Д., Шиляев П.А. Геометрическая теория рассеяния ускоренных электронов на кристаллах. Описание лабораторной работы. Нижний Новгород, Изд. ННГУ. 2003. 38 с.