Стажировки

Повышение квалификации сотрудников

2011 г.

Планкина С.М., Дорохин М.В. получили сертификаты National Instruments о том, что прошли обучение по программам «Основы LabView» и «Модульные приборы».
Николичев Д.Е. получил сертификат о повышении квалификации, пройдя курс стажировки по программе "Nanostructures growth and their study by XPS with depth profiling using UHV systems Omicron Multiprobe RM and Omicron ESCA" (Испания, г. Сарагоса, Instituto de Carboquimica)
29 августа - 5 сентября
Павлов Д.А.
повышал квалификацию в г. Хай-Вайкомб, Великобритания в целях реализации программы развития ННГУ им. Н.И. Лобачевского как национального исследовательского университета в соответствии с мероприятием 3.2. «Развитие системы повышения квалификации и переподготовка научно-педагогических и управленческих кадров» в рамках договора №TBM-2200-21125T, заключенного с фирмой ООО «Токио Боэки (РУС)»; получилисертификаты фирмы Oxford Instruments plc, Великобритания об успешном прохождении курсов INCAEnergy Applications (курсы подготовки операторов рентгеновского энергодисперсионного спектрометра Inca Energy).
23 мая  – 23 сентября
Кудрин А.В.
прошел обучение на факультете переподготовки Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета «ЛЭТИ» по ФЦП «Научные и научно - педагогические кадры инновационной России на» 2009-2013 г., мероприятие 1.4. «Развитие внутрироссийской мобильности научных и научно-педагогических кадров путем выполнения научных исследований молодыми учеными и преподавателями в научно-образовательных центрах» и получил удостоверение с Регистрационным номером 4286. 

2010 г.

19.07.2010 – 23.07.2010  
Павлов Д.А., Николичев Д.Е., Питиримова Е.А.
получили сертификаты TOKYO BOEKI CIS LTD от 30.07.2010.после обучения приемам работы на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100F по учебной программе фирмы JEOL (72 академ. час.): обучение приемам работы на просвечивающем электронном микроскопе JEM-2100F в режимах TEM, SA DIFF, NBD CBD, STEM BF&DF и EDS mapping по учебной программе фирмы JEOL.
08.11.2010 – 12.11.2010
Павлов Д.А. стажировался в международном тренинг-центре JEOL в г. Токио Япония 100 академ. час. Сертификат TOKYO BOEKI CIS LTD от 12.11.2010. 

2009 г. 

Павлов Д.А. прошел стажировку в университете Пенсильвания, США.

2008 г.

Дорохин М.В.повышал квалификацию по индивидуальной программе "Изучение принципов построения и безопасной эксплуатации оборудования для выращивания пленок методом МОС-гидридной эпитаксии”, компания AIXTRON, Германия декабрь 2008 (40 часов)  

2007 г.

19 апреля - 19 июня  
Данилов Ю.А.,
Планкина С.М повышали квалификацию по программе обучающего семинара «Новые материалы электроники и оптоэлектроники для информационно-телекоммуникационных систем». 
Д.Е. Николичев получил сертификат о повышении квалификации на стажировке по программе "X-ray photoelectron spectroscopy of solid state surface structures growing by molecular beam epitaxy" (Германия, г. Таунуштайн, Omicron)